Phát hiện khuyết điểm bên ngoài vỏ là một bước tiền xử lý rất quan trọng trong việc xác định chính xác bệnh gây hại và phân loại chất lượng trái để có cách khắc phục cho vụ mùa sau. Các hệ thống như vậy đang được phát triển và ứng dụng trong ngành nông nghiệp tự động hóa, thông minh ở một số quốc gia phát triển trên thế giới với nhiều công trình nghiên cứu liên quan tới lĩnh vực này. Bài báo trình bày giải thuật phát hiện và nhận dạng một số khiếm khuyết trên bề mặt trái xoài (khuyết điểm bên ngoài vỏ) bằng kỹ thuật xử lý ảnh và máy học nhận dạng.
Tạp chí khoa học Trường Đại học Cần Thơ
Lầu 4, Nhà Điều Hành, Khu II, đường 3/2, P. Xuân Khánh, Q. Ninh Kiều, TP. Cần Thơ
Điện thoại: (0292) 3 872 157; Email: tapchidhct@ctu.edu.vn
Chương trình chạy tốt nhất trên trình duyệt IE 9+ & FF 16+, độ phân giải màn hình 1024x768 trở lên