Nghiên cứu này đề xuất một giải thuật xử lý ảnh kết hợp với máy học để phát hiện và nhận dạng khuyết điểm trên bề mặt vỏ trái xoài. Thuật toán bao gồm các bước chính: tách vùng ảnh chứa trái xoài ra khỏi nền và trích lấy vùng vỏ khuyết điểm từ vùng trái sau khi cải thiện độ tương phản của vùng trái từ ảnh đầu vào. Tiếp theo, từ vùng vỏ chứa khuyết điểm, sử dụng giải thuật duyệt 8 lân cận trên ảnh vùng trái, lọc kích thước, gán nhãn để chọn ra các vùng ứng viên trên vỏ trái xoài có thể là các vùng khuyết điểm. Sau cùng, mạng Nơ-ron được xây dựng để nhận dạng và phân loại khuyết điểm trên vỏ trái xoài. Kết quả thực nghiệm được tiến hành trên tập dữ liệu 219 ảnh tự tạo với 1595 vùng ứng viên cần nhận dạng cho độ chính xác đạt được là 92.79% và thời gian nhận dạng dưới 7s cho một ảnh quả xoài đã khẳng định tính hiệu quả của giải thuật được đề nghị.