Phổ nhiễu xạ tia X (XRD) thu được từ máy quang phổ nhiễu xạ tia X thường ứng dụng trong nghiên cứu định lượng cấu trúc của mẫu dạng bột. Việc khảo sát phổ XRD dựa vào góc lệch giữa tia tới và tia nhiễu xạ của mỗi loại vật liệu để xác định thành phần cấu trúc của nó. Mỗi phổ XRD sẽ là sự phụ thuộc của cường độ nhiễu xạ vào 2 lần góc nhiễu xạ có dạng đặc trưng theo các đỉnh phổ. Trong bài viết này, phổ XRD được mô phỏng, phân tích và xử lý bằng phần mềm Python. Phổ XRD thu được từ thực nghiệm gồm nhiều đỉnh phức tạp được xử lý và xác định các đỉnh đặc trưng cho tinh thể. Kết quả cho thấy bột ớt có một đỉnh chính nằm ở góc nhiễu xạ khoảng 22,010 chứng tỏ bên trong bột ớt có chứa khoáng chất silicat cần xác định. Các số liệu mô phỏng và thực nghiệm bước đầu sẽ được xử lý tiếp cận với máy học để đánh giá kết quả thu được.